深圳默斯測控技術有限公司2025-10-12
微波在穿透介質時產生的衰減和相位變化會受介電常數影響,這些變化同時也與介質損耗角正切值相關,是微波水分測量技術的重要參考依據。
本回答由 深圳默斯測控技術有限公司 提供
深圳默斯測控技術有限公司
聯系人: 王長春
手 機: 18318038856
網 址: http://www.mosye.com