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電子元件貼片電容具有哪些特性參數(shù)？
如今電子產(chǎn)品越來越小，越來越薄，就拿手機來說，從90年代初的大哥大，到如今的iphone系列，這中間進(jìn)步的不只是設(shè)計者，更多的是手機里的電子元件，從一開始的電池一樣大的插件電容到現(xiàn)在小的看不到的貼片電容，那么，電子元件貼片電容具有哪些特性參數(shù)呢？下面電容廠家給大家講解一下。
(1)容量與差錯：實踐電容量和標(biāo)稱電容量答應(yīng)的較大差錯規(guī)模。通常運用的容量差錯有：J級±5%，K級±10%，M級±20%。精細(xì)電容器的答應(yīng)差錯較小，而電解電容器的差錯較大，它們選用不一樣的差錯等級。常用的電容器其精度等級和電阻器的標(biāo)明辦法一樣。用字母標(biāo)明：D級—±0.5%；F級—±1%；G級—±2%；J級—±5%；K級—±10%；M級—±20%。
(2)額外作業(yè)電壓：電容器在電路中可以長時間安穩(wěn)、牢靠作業(yè)，所接受的較大直流電壓，又稱耐壓。對于布局、介質(zhì)、容量一樣的器材，耐壓越高，體積越大。
(3)溫度系數(shù)：在必定溫度規(guī)模內(nèi)，溫度每改變1，電容量的相對改變值。溫度系數(shù)越小越好。
(4)絕緣電阻：用來標(biāo)明漏電巨細(xì)的。通常小容量的電容，絕緣電阻很大，在幾百兆歐姆或幾千兆歐姆。電解電容的絕緣電阻通常較小。相對而言，絕緣電阻，越大越好，漏電也小。
(5)損耗：在電場的效果下，電容器在單位時間內(nèi)發(fā)熱而耗費的能量。這些損耗首要來自介質(zhì)損耗和金屬損耗。通常用損耗角正切值來標(biāo)明。
(6)頻率特性：電容器的電參數(shù)隨電場頻率而改變的性質(zhì)。在高頻條件下作業(yè)的電容器，因為介電常數(shù)在高頻時比低頻時小，電容量也相應(yīng)減少。損耗也隨頻率的升高而添加。別的，在高頻作業(yè)時，電容器的散布參數(shù)，如極片電阻、引線和極片間的電阻、極片的自身電感、引線電感等，城市影響電容器的功能。所有這些，使得電容器的運用頻率受到限制。
不一樣種類的電容器，較高運用頻率不一樣。小型云母電容器在250MHZ以內(nèi)；圓片型瓷介電容器為300MHZ；圓管型瓷介電容器為200MHZ；圓盤型瓷介可達(dá)3000MHZ；小型紙介電容器為80MHZ；中型紙介電容器只要8MHZ。測評貼片電容功能，從三個方面進(jìn)行，首先是貼片電容的四個慣例電功能，即容量Cap.損耗DF，絕緣電阻IR和耐電壓DBV，通常地，X7R產(chǎn)物的損耗值DF<=2.5%，越小越好，IR*Cap>500歐*法，BDV>2.5Ur.其次是貼片電容的加快壽數(shù)功能，在125deg.c環(huán)境溫度和2.5Ur直流負(fù)載條件下，芯片應(yīng)本領(lǐng)100小時不擊穿，質(zhì)量好的可耐1000小時不擊穿。再次就是產(chǎn)物的耐熱沖擊功能，將電容浸入300deg.c錫爐10秒，多做幾粒，顯微鏡下調(diào)查能否有外表裂紋，然后可測驗容量損耗并與熱沖擊前比照分辨芯片能否內(nèi)部裂紋。貼片電容在電路上出現(xiàn)問題，有可能是貼片電容自身質(zhì)量不良，亦有可能是設(shè)計時選擇標(biāo)準(zhǔn)欠佳或是在外表貼裝機械力熱沖擊等對貼片電容形成必定的損傷等要素形成。
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